升显微电子最新一代 28nm 显示控制 IC 已正式量产，过程中采用芯测科技自主研发的 START™ v5 内存测试与修复平台，以确保芯片在量产阶段的高可靠度与高良率表现。
升显微电子是拥有自主知识产权的驱动芯片设计公司，专注于当下热门的AMOLED显示面板驱动芯片开发，产品广泛应用于智能手机与智慧穿戴等消费性电子产品。
在此次项目中，升显微电子导入了 START™ v5 平台中的多项核心功能，包含 MBIST（内建自我测试）、MBISR（内建自我修复）、UDA（User Defined Algorithm） 以及 TEC（Test Element Change），并结合定制化的 SRAM 测试与修复设计，协助团队有效提升内存测试覆盖率与整体良率。
在显示控制芯片的开发中，内存测试是影响良率与稳定度的关键环节。芯测科技的 START™ 平台提供稳定且高覆盖率的测试能力，协助升显微顺利完成产品量产，并达成既定的质量目标。
START™ v5具备高覆盖率的内存测试算法与可扩充的修复架构。该平台支持多项关键技术，包括：
- MBIST + MBISR：快速定位并修复芯片内 SRAM 缺陷，显著提升量产良率。
- TEC：协助测试控制单元与外部测试接口协同运作，简化量产测试流程。
- UDA：可针对不同内存架构进行定制化测试流程，确保高覆盖率与低 DPPM 表现。
芯测科技表示，升显微此次成功量产的案例显示，START™ 平台在显示控制 IC 领域的实际效能已获得验证，未来将持续推动更多合作，协助客户实现高可靠量产。同时，也会在明年开始有权利金的挹注。
经济日报：https://money.udn.com/money/story/5635/9115823?from=edn_newestlist_cate_side