昇顯微電子最新一代 28nm 顯示控制 IC 已正式量產，過程中採用芯測科技自主研發的 START™ v5 記憶體測試與修復平台，以確保晶片在量產階段的高可靠度與高良率表現。
昇顯微電子是擁有自主智慧財產權的驅動晶片設計公司，專注於當下熱門的AMOLED顯示面板驅動晶片開發，產品廣泛應用於智慧手機與智慧穿戴等消費性電子產品。
在此次專案中，昇顯微電子導入了 START™ v5 平台中的多項核心功能，包含 MBIST（內建自我測試）、MBISR（內建自我修復）、UDA（User Defined Algorithm） 以及 TEC（Test Element Change），並結合定制化的 SRAM 測試與修復設計，協助團隊有效提升記憶體測試覆蓋率與整體良率。
在顯示控制晶片的開發中，記憶體測試是影響良率與穩定度的關鍵環節。芯測科技的 START™ 平台提供穩定且高覆蓋率的測試能力，協助昇顯微順利完成產品量產，並達成既定的品質目標。
START™ v5具備高覆蓋率的記憶體測試演算法與可擴充的修復架構。該平台支援多項關鍵技術，包括：
- MBIST + MBISR：快速定位並修復晶片內 SRAM 缺陷，顯著提升量產良率。
- TEC：協助測試控制單元與外部測試介面協同運作，簡化量產測試流程。
- UDA：可針對不同記憶體架構進行定制化測試流程，確保高覆蓋率與低 DPPM 表現。
芯測科技表示，昇顯微此次成功量產的案例顯示，START™ 平台在顯示控制 IC 領域的實際效能已獲得驗證，未來將持續推動更多合作，協助客戶實現高可靠量產。同時，也會在明年開始有權利金的挹注。
經濟日報：https://money.udn.com/money/story/5635/9115823?from=edn_newestlist_cate_side