在汽车应用中，SRAM扮演着暂存与高速缓冲的重要角色，但它也暴露在极端温度与电压环境下，容易出现各种潜在失效。对于需达到ISO 26262 ASIL-C或ASIL-D的车用芯片来说，任何一种内存缺陷都可能导致系统功能安全风险。因此，我们必须了解并覆盖所有潜在的SRAM失效类型。
- 写入操作相关错误
- 读取操作相关错误
- 读写交互动态错误
这些错误类型多数仅在特定操作序列或极端电压/温度条件下出现，因此传统测试算法难以全面覆盖。
芯测科技透过使用者自定义测试算法平台UDA (User Defined Algorithm)，结合TEC (Test Element Change) 技术，提供灵活且高覆盖率的测试序列配置能力，帮助车用SoC设计团队：
- 精准对应多样化SRAM失效类型
- 应对高温、高压等边界操作环境
- 满足ASIL-C / ASIL-D 功能安全等级验证需求