🚗在自动驾驶或煞车等安全关键系统中，即便是百万分之一的失效，也可能带来灾难性后果。这也是为什么在车用芯片开发中，降低DPPM（每百万颗的不良品数）是一个不可妥协的目标。
在本集芯测小学堂中，将解析Power IC、MCU与雷达感测 IC在实际应用中的DPPM 管控目标，并探讨AEC-Q100、IATF 16949 和ISO 26262 等国际标准，如何从设计、制程、测试到验证阶段，影响车用芯片的质量策略。无论您是设计工程师还是测试开发者，透过完整的背景脉络与数据整理，帮助您深入了解顶级供货商是如何实现高可靠度管理。
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