芯测科技荣获「可配置化的非挥发性内存测试及修复系统」美国发明专利

芯测科技于近日取得美国发明专利「Configurable Testing and Repair System for Non-Volatile Memory」，展现我们在内存测试与修复技术领域的创新实力。

本专利设计了一套可配置的非挥发性内存测试与修复系统，具备自动化测试、诊断与修复功能：

📌 测试装置可判断内存是否需要修复，并进行故障地址与错误数据的诊断
📌 修复装置依据诊断结果进行内存修复
📌 控制装置整合测试与修复流程，提升效率与可靠性

这项专利不仅强化芯测科技在内存测试IP市场的技术领先地位，也为客户提供更高品质、弹性化的解决方案！