为什么传统的内存测试方式，已经无法应对AI芯片的需求？
过去50年来，内存技术不断演进，但AI与先进半导体正在彻底改写游戏规则。
无论是车用电子还是AI应用中的SoC，传统的 March C算法已经难以应付隐性缺陷。若无法准确找出内存瑕疵，芯片的可靠性也将大打折扣。
透过本集芯测小学堂中，深入介绍两大内存测试利器 — UDA与EZ-TEC，为您提供灵活且高效的测试解决方案：
📌芯测科技优势技术亮点
✅ UDA (使用者自定义算法)：图形化操作接口，轻松自定测试策略
✅ EZ-TEC SRAM BIST IP ：模块化、专利支持算法，适应先进制程
✅ 更聪明的缺陷检测 → 更高效的修复 → 更低的 DPPM
透过本视频，您将了解芯测科技如何协助全球半导体团队打造更快、更准、更智能的内存测试流程。
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