在IC測試流程中，時間就是成本。傳統的SRAM測試演算法往往「一視同仁」地測試所有記憶體，導致不必要的時間與成本浪費。 芯測科技推出的 EZ-TEC (Easy Test Element Change)，以「演算法元件化」為核心概念，讓測試工程師能靈活組合測試元件，針對關鍵或大面積SRAM進行高效率測試。 這項創新技術不僅能在不改變原有BIST架構的情況下導入，還能與他牌MBIST方案兼容，協助客戶在CP階段進一步優化測試策略、提升晶片良率、降低DPPM。
