在網通晶片中，大量 SRAM 承擔著封包緩衝、排程表與流表等關鍵任務，但同時也容易受製程變異影響，導致良率與可靠性挑戰。
為了確保產品穩定，常見方法是先以 Memory BIST 快速檢測各類失效模式（如 Retention、Write Disturb），再透過 Memory BISR 執行修復，利用備援記憶體單元隔離或替換故障，避免整顆晶片報廢。進一步結合 Logic BIST 與 On-chip Repair Analyzer，則能讓檢測、判斷、修復無縫整合，並支援量產及後續 OTA 測試。
此技術已廣泛應用於：
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Wi-Fi 7 SoC
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Ethernet Switch IC
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SerDes / PCIe PHY
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5G Modem ASIC
透過 BIST + BISR 的協同機制，Networking ASIC 能降低 DPPM、延長壽命，並滿足企業級與車規級設備對高可靠度的需求。