Technology Collection: eFlash Test and Repair Solution: eFlash BIST IP

在車用晶片設計中，eFlash的測試與修復，直接影響產品的可靠度與安全性。芯測科技開發的eFlash BIST IP，涵蓋測試需求，並提供支援修復機制，協助晶片在高標準下維持穩定表現。
此IP並符合ISO 26262 功能安全標準，能廣泛應用於車規晶片，幫助客戶加速開發、降低DPPM。