芯測科技宣布推出業界首創的全新技術──MBIST檢測演算法推薦工具（MBIST Algorithm Recommendation Tool, MART），將AI技術導入原有的 UDA（User-Defined Algorithm使用者自定義演算法） 功能。使用者只需回答簡單的互動式問題，即可快速獲得量身建議的MBIST（Memory Built-In Self-Test）演算法，並自動生成最佳化的BFL設定檔，直接應用於設計與測試流程，讓測試效率與準確度拉高一個層級。
傳統上，工程師在制定測試方案時，通常只是單純的規則比對，缺乏彈性；同時必須依靠繁瑣的表格查詢與經驗判斷，才能挑選適合的測試演算法。但隨著製程技術節點不斷演進、應用場景多元化，以及日趨嚴格的品質和交期要求，傳統方法已難以兼顧速度與精準。
因應此挑戰，芯測科技特別導入 AI 權重的概念，讓每種條件（例如功耗、面積、良率）都被賦予一個權重值，AI會根據過往案例與內建知識庫，動態調整這些權重。最後的演算法推薦結果，不只是「條件符合」，而是 在多個條件下加權排序後的最佳解。
這個工具的核心價值包括：
- 降低決策成本：不用再逐一查表，AI 會根據條件自動加權分析。
- 智慧化推薦：讓 BIST 演算法的選擇更貼近客戶的實際需求。
- 彈性與可控性：客戶仍然能依需求做最終調整，兼顧智慧化與人工經驗。
透過 AI 權重的導入，不僅能提升 BIST 測試的效率，也能幫助客戶在設計與量產中，達到更佳的品質與效能平衡。同時也大幅縮短前期決策時間，並降低 DPPM（每百萬顆中不良品數）。
芯測科技表示，未來將持續擴展MART的應用範疇，不僅涵蓋更多 SRAM 測試模式，也將延伸至邏輯測試、MBISR（Memory Built-In Self-Repair）以及晶片端可靠度分析器，打造一個完整的智慧化 DFT（Design for Test）生態系。