在晶片設計與量產測試過程中，錯誤診斷速度往往決定了專案進度與良率。芯測科技推出的 EZ-Debug，以高性價比、快速定位、完整診斷為核心特色，協助工程團隊在不增加測試成本的前提下，迅速找出記憶體故障原因，縮短除錯時間。
