芯测科技于 2025 亚洲金选奖（EE Awards Asia）中脱颖而出，旗下自主研发的 EDA 工具 START™ v5（SRAM 测试与修复解决方案） 荣获 「年度最佳 EDA（Best EDA of the Year）」 殊荣，并由芯测科技王筱萍副总经理于2025年12月5日代表领奖。
START™ v5是以公司专利技术 「用于产生内存自我测试算法电路之方法（METHOD FOR GENERATING A MEMORY BUILT-IN SELF-TEST ALGORITHM CIRCUIT）」为核心所打造的高阶内存测试与修复平台。此技术自 2022 年取得台湾专利后，于 2023 年 10 月成功取得美国专利，象征芯测科技于国际内存测试领域的研发突破获得全球专业肯定。本次获得亚洲金选奖，更进一步展现台湾 EDA 技术在国际舞台上的实力与创新能量。
亚洲金选奖由 EE Times Asia 与 EDN Asia 联合主办，为亚太地区最具指针性的电子产业年度评选之一。奖项由跨国评审团与工程师票选共同决定，旨在表扬于电子设计、半导体制程与技术创新领域具有卓越贡献的企业与产品。本次得奖彰显了 START™ v5 的技术创新与实务价值获得专业市场高度肯定，并确立了芯测科技在内存测试与修复技术领域的产业领导地位。
传统内存测试算法常因重复测项造成测试时间冗长、制造成本上升、算法缺乏客制化弹性等问题，START™ v5 的 UDA 模块化算法架构，彻底改善了这些问题。透过可编辑、可客制化的测试元素，工程师能删除冗余测试项目、客制化测试流程，并针对不同制程与 SRAM 设计快速调整策略。如此一来，便能缩短测试时间、大幅降低成本，同时提升测试覆盖率、强化芯片良率与产品可靠度，并降低 DPPM。
START™ v5 所展现的弹性架构、算法可扩展性与良率优化能力，使其成为多家国内外先进 IC 设计企业提升良率的重要工具。芯测科技表示，此次获得「年度最佳 EDA」奖项，不仅是对公司研发团队的肯定，更强化了其持续投入先进制程、高可靠度测试技术的决心，未来将持续协助更多客户在先进制程环境中攻克内存测试挑战，改善设计效能并提升量产可靠度。
经济日报： https://money.udn.com/money/story/5635/9188628?from=edn_newestlist_cate_side