USB Type-C 介面以高整合、高傳輸速度與雙向供電特性，迅速成為各類電子產品的主流標準。隨著應用橫跨消費性電子、工控設備、車載系統與醫療裝置，控制晶片的可靠度與可測試性要求也同步升級。
芯測科技長期深耕記憶體測試與修復技術，本集將深入解析 MBIST（內建自我測試） 與 MBISR（內建自我修復） 在 USB Type-C 控制晶片設計中的重要角色。透過內建測試架構，設計團隊可在晶片階段即快速驗證記憶體品質，並在量產階段透過自動修復機制提升良率與穩定度。
芯測科技提供可靈活配置的 UDA（使用者自定義平臺） 與 TEC（測試演算法整合控制技術），協助客戶依產品特性調整測試結構與演算法參數，達成效能、成本與可靠度間的最佳平衡。從 IP 層級支援到 SoC 整合驗證，芯測完整的測試解決方案已廣泛應用於多家 USB 控制晶片設計公司，助力客戶快速達成 AEC-Q100 車規標準，並穩定推進量產上市。