芯测科技宣布推出业界首创的全新技术──MBIST检测算法推荐工具（MBIST Algorithm Recommendation Tool, MART），将AI技术导入原有的UDA（User-Defined Algorithm用户自定义算法）功能。使用者只需回答简单的交互式问题，即可快速获得量身建议的MBIST（Memory Built-In Self-Test）算法，并自动生成优化的BFL配置文件，直接应用于设计与测试流程，让测试效率与准确度拉高一个层级。
传统上，工程师在制定测试方案时，通常只是单纯的规则比对，缺乏弹性；同时必须依靠繁琐的表格查询与经验判断，才能挑选适合的测试算法。但随着制程技术节点不断演进、应用场景多元化，以及日趋严格的质量和交期要求，传统方法已难以兼顾速度与精准。
因应此挑战，芯测科技特别导入 AI 权重的概念，让每种条件（例如功耗、面积、良率）都被赋予一个权重值，AI会根据过往案例与内建知识库，动态调整这些权重。最后的算法推荐结果，不只是「条件符合」，而是 在多个条件下加权排序后的最佳解。
- 降低决策成本：不用再逐一查表，AI 会根据条件自动加权分析。
- 智慧化推荐：让 BIST 算法的选择更贴近客户的实际需求。
- 弹性与可控性：客户仍然能依需求做最终调整，兼顾智慧化与人工经验。
透过 AI 权重的导入，不仅能提升 BIST 测试的效率，也能帮助客户在设计与量产中，达到更佳的质量与效能平衡。同时也大幅缩短前期决策时间，并降低 DPPM（每百万颗中不良品数）。
芯测科技表示，未来将持续扩展MART的应用范畴，不仅涵盖更多 SRAM 测试模式，也将延伸至逻辑测试、MBISR（Memory Built-In Self-Repair）以及芯片端可靠度分析器，打造一个完整的智慧化 DFT（Design for Test）生态系。